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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 323182 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 323182

Título del libro: Synthesis, Characterization And Application Of Smart Materials
Título del capítulo: Electromechanical imaging of ferroelectric and piezoelectric materials

Autores UNAM:
ALEJANDRO HEREDIA BARBERO;

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Autores externos:

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Idioma:
Inglés

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Año de publicación:
2012

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Resumen:

Ferroelectrics and are a subclass of piezoelectrics, namely, materials that experience mechanical deformation under applied voltage or charging under mechanical force. The piezoelectric character of Materials yields a novel degree of freedom in designing devices for modern micro- and nanoelectronic applications. Naturally, this property has to be studied at the nanoscale as the size of the tubular structures ranges from 50 nm to several microns. The available methods mainly include those based on the Scanning Probe Microscopy, such as PFM - Piezoresponse Force Microscopy. In the chapter, we describe fundamentals and recent advances in PFM, and the nanoscale electromechanical properties of several important ferroelectric ceramic materials widely used in memory and microelectromechanical systems applications. Finally, applications of PFM to dimensionally confined ferroelectrics are demonstrated. The potential of PFM for studying local electromechanical phenomena in polycrystalline ferroelectric films where defects and other inhomogeneities are essential for the interpretation of their macroscopic properties is illustrated. © 2012 by Nova Science Publishers, Inc. All rights reserved.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781614706427
Editorial:
Nova Science Publishers, Inc. Nombre de la publicación:
Electromechanical imaging of ferroelectric and piezoelectric materials
Página inicial:
239
Página final:
250

Tipo de producto:
Capítulo de un Libro