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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 371928 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 371928

Título del libro: Proceedings Of The 30th Annual International Conference Of The Ieee Engineering In Medicine And Biology Society, Embs'08 - "personalized Healthcare Through Technology"
Título del capítulo: A method for semiautomatic tracing and morphological measuring of neurite outgrowth from DIC sequences

Autores UNAM:
ZIAN FANTI GUTIERREZ; FRANCISCO RAFAEL FERNANDEZ DE MIGUEL; MARIA ELENA MARTINEZ PEREZ;

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Autores externos:

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Idioma:
Inglés

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Año de publicación:
2008

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Palabras clave:

Image sequences; Length measurements; Neurite; Neurite outgrowths; Ridge extractions; Semi automatics; Thickness measurement

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Resumen:

We present a method for semi-automatic tracing and measuring of neurite outgrowth from time-lapse sequences of digital Nomarski micrographs. The algorithm is based on neurite ridge extraction and characterization from a single frame, followed by an automatic neurite tracking and measurement along the image sequence. Our method was tested with two sequences one containing 29 and other with 77 frames taken at intervals of 2 min. Our method rendered comparable length measurements but better time performance than measurements made by use of certain public software. © 2008 IEEE.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781424418152
Editorial:
IEEE Computer Society

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/iembs.2008.4649377