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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 502182 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 502182

Título del libro: 2017 17th Workshop On Information Processing And Control, Rpic 2017
Título del capítulo: A low noise digital readout system for scientific charge coupled devices

Autores UNAM:
KAREN HERNANDEZ MURILLO;

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Autores externos:

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Idioma:
Español

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Año de publicación:
2017

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Palabras clave:

Charge coupled devices; Digital devices; Readout systems; DCDS; Detection efficiency; Digital acquisition systems; Digital readout system; Front end electronics; Low energy thresholds; Processing technique; Readout noise; Analog to digital conversion

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Resumen:

Fully depleted thick CCDs have been designed for infrared astronomy, but their low read-out noise of the order of ã 2 e- and their considerable mass of ã 5.2g, allows novel uses for them in low energy threshold particle detection applications, such as the CONNIE and DAMIC experiments. For both experiments, a reduction of the CCD read-out noise is will produce an increase in the detection efficiency. Few works have demonstrated that is possible reduce the noise applying digital processing techniques, and it is a field that must be explored. In this work the design of a CCD digital acquisition system will be presented. The impact of key parameters as quantization noise, front-end gain and ADC noise will be analyzed. A prototype of the front-end electronics was successfully tested with a CCD exposed to X-rays, achieving 2.3e- of readout noise. © 2017 Comisión Permanente RPIC.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:



ISBN:
9789875447547
Editorial:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.23919/RPIC.2017.8214366