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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 517087 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 517087

Título del libro: Conielecomp 2019 - 2019 International Conference On Electronics, Communications And Computers
Título del capítulo: Model checking for gaze pattern recognition

Autores UNAM:
ISMAEL EVERARDO BARCENAS PATIÃ?O; GUILLERMO GILBERTO MOLERO CASTILLO;

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Autores externos:

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Idioma:
Inglés

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Año de publicación:
2019

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Palabras clave:

Application programs; Computer circuits; Computer software selection and evaluation; Pattern recognition; Specification languages; Temporal logic; Eye fixations; Gaze; Linear temporal logic; Model checking algorithm; Real-time application; Scan path; Software evaluation; String matching; Model checking

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Resumen:

Automated gaze pattern recognition has found applications in several settings: Software evaluation, marketing, education, etc. Traditional algorithms apply string matching approaches to obtain patterns from scanpaths (sequences of eye fixations). Although string matching algorithms have been widely studied and can be highly efficients, which is of crucial importance in real time applications, only relatively simple patterns can be recognized. In the current paper, we propose the use of linear temporal logic (LTL) as an expressive pattern specification language. Expressive patterns involving temporality and loops can be succinctly expressed. These expressive patterns are detected by a model checking algorithm for LTL. The algorithm decides if a formula satisfies or not a given model. In our proposal, the scanpath represents the model and the formula represents the pattern. We illustrate this proposal with some experiments. © 2019 IEEE.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781728111452
Editorial:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/CONIELECOMP.2019.8673208