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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 524616 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 524616

Título del libro: 2019 Ieee Canadian Conference Of Electrical And Computer Engineering, Ccece 2019
Título del capítulo: A New Approach to Fault Detection and Location in AC Transmission Lines Based on Wavelet Correlation Modes

Autores UNAM:
DANIEL GUILLEN APARICIO; RUBEN TAPIA OLVERA; VICENTE TORRES GARCIA;

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Autores externos:

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Idioma:
Inglés

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Año de publicación:
2019

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Palabras clave:

Circuit theory; Electric lines; Location; Software testing; AC transmission lines; Fault detection and location; Mean errors; Mother wavelets; Multiterminal transmission line; New approaches; Switching transient; Transient information; Fault detection

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Resumen:

This paper introduces a novel approach to detect and locate faults in AC transmission lines. The fault location process is carried out using wavelet correlation modes and taking into account the short-circuit theory. To validate the new proposal, several tests were conducted in ATP-EMTP software considering a wide variety of simulations. Additionally, the fault location is done using a new mother wavelet, called wavelet ET that was previously obtained considering the transient information produced by switching transients and faults. The obtained results shows satisfactory during the fault location process which is analyzed in a multi-terminal transmission line. The mean error achieved was lower than 1 % for solid-grounded faults. © 2019 IEEE.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781728103198
Editorial:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/CCECE.2019.8861840