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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 537244 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 537244

Título del libro: 2017 Ieee International Autumn Meeting On Power, Electronics And Computing (ropec)
Título del capítulo: HIF analysis using discrete wavelet transform

Autores UNAM:
VICENTE TORRES GARCIA;

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Autores externos:

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Idioma:
Inglés

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Año de publicación:
2018

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Palabras clave:

Discrete wavelet transforms; Electric arcs; Overcurrent protection; Detection and localization; Distribution systems; Electric distribution systems; Electrical equipment; Flow of current; High impedance fault; Overhead power lines; wavelets; Signal reconstruction

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Resumen:

A high-impedance fault (HIF) is generated when an overhead power line physically breaks and falls to the ground or when makes unwanted contact with any object to ground which restricts the flow of current. Such kind of fault are difficult to detect and locate in electric distribution systems because of the small currents magnitudes involved which cannot be detected by conventional overcurrent protection. Furthermore, an arcing often accompanies high-impedance faults that can result in fire hazard, damage to electrical equipment, or even worst, a risk to human life. For these reasons the high impedance faults phenomenon has been the subject of intense research. In this paper an analysis HIF field test using the discrete wavelet transform (DWT) is presented, the proposed analysis is a step forward in the HIFs detection and localization in electric distribution systems. © 2017 IEEE.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781538608197
Editorial:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/ROPEC.2017.8261678