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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 537391 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 537391

Título del libro: Ieee International Symposium On Industrial Electronics
Título del capítulo: Phase effect in frequency measurements of a quartz crystal using the pulse coincidence principle

Autores UNAM:
FABIAN NATANAEL MURRIETA RICO; VITALI PETRANOVSKI AFANASIEVNA; DONALD HOMERO GALVAN MARTINEZ; JOEL ANTUNEZ GARCIA;

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Autores externos:

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Idioma:

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Año de publicación:
2020

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Palabras clave:

Crystals; Clock Synchronization; Coincidence principles; Diverse applications; Frequency measurements; Measurement techniques; Rational approximations; Signal frequencies; Time-frequency parameter; Industrial electronics

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Resumen:

Measurement of time-frequency parameters is a task required in quite diverse applications, which include clock synchronization, radar systems, sensors, etc. This is the reason why frequency measurement is one of the key processes in many systems. Accordingly, approximation of a signal frequency has been actively researched and plenty of measurement techniques have been proposed. In the last years, the principle of rational approximations has been evaluated for frequency measuring, particularly for sensors. In this work, we examine the effect of phase in input signals during measurement, when the principle of rational approximations is applied. Data from an experimental measurement system is analyzed and conclusions are drawn. © 2020 IEEE.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781728156354
Editorial:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/ISIE45063.2020.9152255