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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 541109 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 541109

Título del libro: Iecon 2015 - 41st Annual Conference Of The Ieee Industrial Electronics Society
Título del capítulo: Outlier mining of a vision sensing databasefor SVM regression improvement

Autores UNAM:
FABIAN NATANAEL MURRIETA RICO;

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Autores externos:

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Idioma:
Inglés

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Año de publicación:
2015

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Palabras clave:

Artificial intelligence; Data handling; Error correction; Industrial electronics; Measurement errors; Multivariant analysis; Pattern recognition; Regression analysis; Robots; Statistics; Structural health monitoring; Support vector machines; Mahalanobis distances; Measurement system; Multivariate outlier analysis; Nonlinear behavior; outliers; Spatial measurements; Support vector machine regressions; Vision sensing; Spatial variables measurement

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Resumen:

A 3D spatial measurement system has been enhanced by computational intelligence. The measurement system is based in opto-electronic scanning instrumentation for industrial task, robot navigation, medical scanning, and structural health monitoring applications. This paper presents new research performed in the data processing of a vision sensing database. Multivariate outlier analysis has been implemented by Mahalanobis distance in order to improve Support Vector Machine (SVM) regression algorithm results. Measurement error regression data has been used for spatial 3D measurements error correction. Demonstrating that optical systems for measurements that present non-linear behavior could be positive impacted by computational intelligence. © 2015 IEEE.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781479917624
Editorial:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/IECON.2015.7392101