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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 613733 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 613733

Título del libro: Program And Abstract Book - 2010 7th International Conference On Electrical Engineering, Computing Science And Automatic Control, Cce 2010
Título del capítulo: On the computational methods employed in two-dimensional Electrical Impedance Tomography

Autores UNAM:
MIGUEL ROBLES PEREZ;

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Autores externos:

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Idioma:
Inglés

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Año de publicación:
2010

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Palabras clave:

Electrical impedance; Electrical impedance tomography; Forward problem; Pseudoanalytic functions; Reconstructed image; Automation; Computational methods; Control; Diagnostic radiography; Electric impedance measurement; Electric impedance tomography; Electrical engineering; Finite element method; Numerical methods; Process control; Two dimensional; Electric impedance

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Resumen:

We analyze the State of Art in computational methods, employed for analyzing the two-dimensional Electrical Impedance Tomography problem (EIT). We broach an assortment of techniques that may be considered among the most important innovations on this area, emphasizing that the Finite Element Method has played a central role for solving the forward problem of the Electrical Impedance Equation, backbone of EIT. We finally study a novel numerical method, based onto the modern theory of Pseudoanalytic Functions, that could well improve the quality of the reconstructed images, when applied in lieu of the Finite Element Method. © 2010 IEEE.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781424473120
Editorial:
IEEE Computer Society

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/ICEEE.2010.5608621