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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 617524 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 617524

Título del libro: 2022 Ieee International Symposium On Applications Of Ferroelectrics, Piezoresponse Force Microscopy And European Conference On Applications Of Polar Dielectrics, Isaf-Pfm-Ecapd 2022
Título del capítulo: Lead-free KNN-based thin films obtained by pulsed laser deposition

Autores UNAM:
ROSALBA CASTAÑEDA GUZMAN;

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Autores externos:

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Idioma:

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Año de publicación:
2022

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Palabras clave:

Ferroelectric thin films; Ferroelectricity; Grain growth; Lithium compounds; Morphology; Niobium compounds; Perovskite; Piezoelectricity; Pulsed lasers; Sodium compounds; And knnbased.; Deposition Parameters; Ferroelectric thin-films; Lead-Free; Lead-Free thin film; Morphological characteristic; PLD method; Pulsed-laser deposition; Structural characteristics; Thin-films; Pulsed laser deposition

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Resumen:

In this work, 0.96(K0.48Na0.52)0.95Li0.05Nb0.94Sb0.06 O3-0.04Ba0.94Ca0.06 ZrO3 (KNLNS-BCZ) and 0. 9S(K0.48Na0.52)0.95Li0.05Nb0.95Sb0.05O3-0.02Ba0.5(Bi0.5Na0.5)0.5ZrO3 (KNLNS-BBNZ) ferroelectric thin films were obtained by pulsed laser deposition. The structural, and morphological characteristics were studied to determine the best deposition parameters and analyse the piezoelectric properties. The studied deposition parameters were temperature, laser fluence, oxygen partial pressure and frequency. These parameters impact important characteristics of the thin films like grain morphology, thickness, and roughness. KNLNS-BCZ thin films with pure perovskite structure, homogeneous grain growth, and thickness =q 100 nm were fabricated at 700°C, 2J/cm2,300 mTorr, and frequencies of 5 Hz and 10 Hz. These films presented good ferroelectric behaviour and piezoelectric coefficient d33eff of 83.80 pm/V and 25.80 pm/V, respectively. © 2022 IEEE.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781665448413
Editorial:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/ISAF51494.2022.9870118