ERROR:SQLSTATE[HY000]: General error: 20018 Invalid column name 'CodigoInstitucion'. [20018] (severity 16) [SELECT PublicObrasAutores.NumeroEmpleado, PublicObrasAutores.ApellidoPaterno, PublicObrasAutores.ApellidoMaterno, PublicObrasAutores.Nombre, PublicObrasAutores.NombreCompleto FROM PublicObrasAutores LEFT JOIN PublicObrasAutoresFil ON PublicObrasAutores.RefPublicacion = PublicObrasAutoresFil.RefPublicacion WHERE PublicObrasAutores.RefPublicacion = '634699' AND PublicObrasAutores.NumeroEmpleado IS NULL AND PublicObrasAutoresFil.CodigoInstitucion IS NOT NULL;]
SELECT PublicObrasAutores.NumeroEmpleado, PublicObrasAutores.ApellidoPaterno, PublicObrasAutores.ApellidoMaterno, PublicObrasAutores.Nombre, PublicObrasAutores.NombreCompleto FROM PublicObrasAutores LEFT JOIN PublicObrasAutoresFil ON PublicObrasAutores.RefPublicacion = PublicObrasAutoresFil.RefPublicacion WHERE PublicObrasAutores.RefPublicacion = '634699' AND PublicObrasAutores.NumeroEmpleado IS NULL AND PublicObrasAutoresFil.CodigoInstitucion IS NOT NULL;

ERROR:SQLSTATE[HY000]: General error: 20018 Invalid column name 'CodigoInstitucion'. [20018] (severity 16) [SELECT PublicObrasAutores.NumeroEmpleado, PublicObrasAutores.ApellidoPaterno, PublicObrasAutores.ApellidoMaterno, PublicObrasAutores.Nombre, PublicObrasAutores.NombreCompleto FROM PublicObrasAutores LEFT JOIN PublicObrasAutoresFil ON PublicObrasAutores.RefPublicacion = PublicObrasAutoresFil.RefPublicacion WHERE PublicObrasAutores.RefPublicacion = '634699' AND PublicObrasAutores.NumeroEmpleado IS NULL AND PublicObrasAutoresFil.CodigoInstitucion IS NULL;]
SELECT PublicObrasAutores.NumeroEmpleado, PublicObrasAutores.ApellidoPaterno, PublicObrasAutores.ApellidoMaterno, PublicObrasAutores.Nombre, PublicObrasAutores.NombreCompleto FROM PublicObrasAutores LEFT JOIN PublicObrasAutoresFil ON PublicObrasAutores.RefPublicacion = PublicObrasAutoresFil.RefPublicacion WHERE PublicObrasAutores.RefPublicacion = '634699' AND PublicObrasAutores.NumeroEmpleado IS NULL AND PublicObrasAutoresFil.CodigoInstitucion IS NULL;

ERROR:SQLSTATE[HY000]: General error: 20018 Invalid column name 'Institucion'. [20018] (severity 16) [SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = '634699']
SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = '634699'

ERROR:SQLSTATE[HY000]: General error: 20018 Invalid column name 'Institucion'. [20018] (severity 16) [SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 634699 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 634699]
SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 634699 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 634699

Título del libro: 2012 8th International Caribbean Conference On Devices, Circuits And Systems, Iccdcs 2012
Título del capítulo: Considerations on I DDQ test on OTFT circuits

Autores UNAM:
ALEJANDRA CASTRO CARRANZA;

---

Autores externos:

---

Idioma:

---

Año de publicación:
2012

---

Palabras clave:

Background level; Partitioning strategies; S/N ratio; Test techniques

---

Resumen:

In this paper we will analyze the feasibility of applying the well known IDDQ test technique to OTFT circuits. Specifically, we will analyze the implications of the leakage current, the Ion/Ioff ratio, and the S/N ratio on the applicability of IDDQ. It will be shown that, even if the IDDQ is applicable, some adaptation must be made, to allow detecting the possible faults over the background level. These adaptations may probably take the form of partitioning strategies, which must be adapted to the actual technology. © 2012 IEEE.

---

Entidades citadas de la UNAM:

---

Fuente:


ISBN:
9781457711169
Editorial:

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/ICCDCS.2012.6188878