Reflectancia interna de luz difusa para el monitoreo de procesos en superficie y películas delgadas

Sinodales:
AUGUSTO GARCIA VALENZUELA; JESUS GARDUÑO MEJIA; ALEJANDRO REYES CORONADO;
Autores:
Osorio Tascón, Juan Camilo
Tipo de tesis:
Tesis de Maestría
Entidad presentadora de examen profesional:
Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnológico
Entidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología; Facultad de Ciencias;