SISTEMA INTEGRAL DE INFORMACIÓN ACADÉMICA - PÚBLICO
Reflectancia interna de luz difusa para el monitoreo de procesos en superficie y películas delgadas
Sinodales: AUGUSTO GARCIA VALENZUELA;
JESUS GARDUÑO MEJIA;
ALEJANDRO REYES CORONADO;
Autores: Osorio Tascón, Juan CamiloTipo de tesis: Tesis de MaestríaEntidad presentadora de examen profesional: Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo TecnológicoEntidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología; Facultad de Ciencias;