Caracterizacion de propiedades dielectricas de vidrios basados en SiO2 usando el metodo de espectroscopia de impedancias
Sinodales:
ALFONSO HUANOSTA TERA;
Autores:
Perez Fernandez, Guevar
Tipo de tesis:
Tesis de Licenciatura
Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Ciencias
Entidades por adscripción en la UNAM:
ALFONSO HUANOSTA TERA;
Autores:
Perez Fernandez, Guevar
Tipo de tesis:
Tesis de Licenciatura
Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Ciencias
Entidades por adscripción en la UNAM:
Fuente:
