Propiedades topologicas, electronicas y opticas de silicio amorfo puro y contaminado
Sinodales:
ARIEL ALBERTO VALLADARES CLEMENTE;
Autores:
Alvarez Ramirez, Fernando
Tipo de tesis:
Tesis de Doctorado
Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Ciencias
Entidades por adscripción en la UNAM:
ARIEL ALBERTO VALLADARES CLEMENTE;
Autores:
Alvarez Ramirez, Fernando
Tipo de tesis:
Tesis de Doctorado
Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Ciencias
Entidades por adscripción en la UNAM:
Fuente:
