SISTEMA INTEGRAL DE INFORMACIÓN ACADÉMICA - PÚBLICO
Caracterizacion morfologica de peliculas de GaAs(N) por microscopia de fuerza atomica
Sinodales: OCTAVIO ALVAREZ FRAGOSO;
Autores: García Chavarria, Sabit KarinaTipo de tesis: Tesis de MaestríaEntidad presentadora de examen profesional: Instituto de Investigaciones en MaterialesEntidades por adscripción en la UNAM: