Caracterizacion morfologica de peliculas de GaAs(N) por microscopia de fuerza atomica

Sinodales:
OCTAVIO ALVAREZ FRAGOSO;
Autores:
García Chavarria, Sabit Karina
Tipo de tesis:
Tesis de Maestría
Entidad presentadora de examen profesional:
Instituto de Investigaciones en Materiales
Entidades por adscripción en la UNAM: