Explorando el método de RMN de xenón para evaluar el gradiente de campo eléctrico en sitios a la escala nanométrica

Sinodales:
ENRIQUE JAIME LIMA MUÑOZ;
Autores:
López Pineda, Eduardo
Tipo de tesis:
Tesis de Licenciatura
Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Ciencias
Entidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Investigaciones en Materiales;