Corrección de artefactos debidos a endurecimiento de haz en un microtomógrafo de rayos X

Sinodales:
JOSE MANUEL LARRAGA GUTIERREZ; ARNULFO MARTINEZ DAVALOS; MERCEDES RODRIGUEZ VILLAFUERTE;
Autores:
Kikushima Palacios, Juan Masashi
Tipo de tesis:
Tesis de Maestría
Entidad presentadora de examen profesional:
Instituto de Física
Entidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Física; Instituto de Física;