SISTEMA INTEGRAL DE INFORMACIÓN ACADÉMICA - PÚBLICO
Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización
Sinodales: GUILLERMO SANTANA RODRIGUEZ;
Autores: Hamui Balas, LeónTipo de tesis: Tesis de MaestríaEntidad presentadora de examen profesional: Instituto de Investigaciones en MaterialesEntidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Investigaciones en Materiales;