Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización

Sinodales:
GUILLERMO SANTANA RODRIGUEZ;
Autores:
Hamui Balas, León
Tipo de tesis:
Tesis de Maestría
Entidad presentadora de examen profesional:
Instituto de Investigaciones en Materiales
Entidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Investigaciones en Materiales;