Caracterización in-situ de películas semiconductoras porosas por fotoacústica diferencial

Sinodales:
JOSE LUIS ARAGON VERA; MARIO ENRIQUE RODRIGUEZ GARCIA; GUILLERMO SANTANA RODRIGUEZ;
Autores:
Espinosa Arbelaez, D. G.
Tipo de tesis:
Tesis de Doctorado
Entidad presentadora de examen profesional:
Coordinación de Estudios de Posgrado
Entidades por adscripción en la UNAM:
Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada; Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada; Instituto de Investigaciones en Materiales;