SISTEMA INTEGRAL DE INFORMACIÓN ACADÉMICA - PÚBLICO
Caracterización in-situ de películas semiconductoras porosas por fotoacústica diferencial
Sinodales: JOSE LUIS ARAGON VERA;
MARIO ENRIQUE RODRIGUEZ GARCIA;
GUILLERMO SANTANA RODRIGUEZ;
Autores: Espinosa Arbelaez, D. G.Tipo de tesis: Tesis de DoctoradoEntidad presentadora de examen profesional: Coordinación de Estudios de PosgradoEntidades por adscripción en la UNAM:
Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada; Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada; Instituto de Investigaciones en Materiales;