SISTEMA INTEGRAL DE INFORMACIÓN ACADÉMICA - PÚBLICO
Desarrollo y aplicación de difracción y fluorescencia de rayos X in situ para la caracterización de materiales
Sinodales: JOSE ALVARO CHAVEZ CARVAYAR;
JOSE LUIS RUVALCABA SIL;
Autores: Aguilar Melo, ValentinaTipo de tesis: Tesis de MaestríaEntidad presentadora de examen profesional: Coordinación de Estudios de PosgradoEntidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Investigaciones en Materiales; Instituto de Física;