Desarrollo y aplicación de difracción y fluorescencia de rayos X in situ para la caracterización de materiales

Sinodales:
JOSE ALVARO CHAVEZ CARVAYAR; JOSE LUIS RUVALCABA SIL;
Autores:
Aguilar Melo, Valentina
Tipo de tesis:
Tesis de Maestría
Entidad presentadora de examen profesional:
Coordinación de Estudios de Posgrado
Entidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Investigaciones en Materiales; Instituto de Física;