SISTEMA INTEGRAL DE INFORMACIÓN ACADÉMICA - PÚBLICO
Caracterización de materiales in situ por difracción y fluorescencia de rayos X
Sinodales: ERIC MAURICIO RIVERA MUÑOZ;
JOSE LUIS RUVALCABA SIL;
Autores: Aguilar Melo, ValentinaTipo de tesis: Tesis de DoctoradoEntidad presentadora de examen profesional: Coordinación de Estudios de PosgradoEntidades por adscripción en la UNAM:
Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada; Instituto de Física;