Caracterización de materiales in situ por difracción y fluorescencia de rayos X

Sinodales:
ERIC MAURICIO RIVERA MUÑOZ; JOSE LUIS RUVALCABA SIL;
Autores:
Aguilar Melo, Valentina
Tipo de tesis:
Tesis de Doctorado
Entidad presentadora de examen profesional:
Coordinación de Estudios de Posgrado
Entidades por adscripción en la UNAM:
Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada; Instituto de Física;