Objetivo de microscopio de alta resolución para diagnóstico y manipulación de sistemas ultrafríos

Sinodales:
JORGE AMIN SEMAN HARUTINIAN;
Autores:
Vargas Vélez, Patricio
Tipo de tesis:
Tesis de Licenciatura
Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Ciencias
Entidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Física;