SISTEMA INTEGRAL DE INFORMACIÓN ACADÉMICA - PÚBLICO
Objetivo de microscopio de alta resolución para diagnóstico y manipulación de sistemas ultrafríos
Sinodales: JORGE AMIN SEMAN HARUTINIAN;
Autores: Vargas Vélez, PatricioTipo de tesis: Tesis de LicenciaturaEntidad presentadora de examen profesional: Facultad de CienciasEntidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Física;