SISTEMA INTEGRAL DE INFORMACIÓN ACADÉMICA - PÚBLICO
Control de distancia para microscopio de barrido con resolución micrométrica
Sinodales: NASER QURESHI;
Autores: Ascencio Rojas, Luis FelipeTipo de tesis: Tesis de LicenciaturaEntidad presentadora de examen profesional: Facultad de IngenieríaEntidades por adscripción en la UNAM:
Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnológico;