Control de distancia para microscopio de barrido con resolución micrométrica

Sinodales:
NASER QURESHI;
Autores:
Ascencio Rojas, Luis Felipe
Tipo de tesis:
Tesis de Licenciatura
Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Ingeniería
Entidades por adscripción en la UNAM:
Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnológico;