Medición de alta resolución y sensibilidad para sensores resistivos : instrumentación y aplicaciones

Sinodales:
ROBERTO GIOVANNI RAMIREZ CHAVARRIA;
Autores:
Lozano Herrera, Tonantzin
Tipo de tesis:
Tesis de Licenciatura
Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Ingeniería
Entidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Ingeniería;