SISTEMA INTEGRAL DE INFORMACIÓN ACADÉMICA - PÚBLICO
Medición de alta resolución y sensibilidad para sensores resistivos : instrumentación y aplicaciones
Sinodales: ROBERTO GIOVANNI RAMIREZ CHAVARRIA;
Autores: Lozano Herrera, TonantzinTipo de tesis: Tesis de LicenciaturaEntidad presentadora de examen profesional: Facultad de IngenieríaEntidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Ingeniería;