SIIA Público

Estudio de las propiedades ópticas, estructurales y microestructurales de películas delgadas de SINx crecidas a temperatura ambiente mediante pulverización catódica asistida por radiofrecuencia

Sinodales:
ARTURO RODRIGUEZ GOMEZ;

Autores:
Barrera Mendivelso, Edwin Sebastián

Tipo de tesis:
Tesis de Maestría

Entidad presentadora de examen profesional:
Instituto de Física

Entidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Física;