Aplicación de la difracción de rayos-X al estudio de materiales micro y nanoestructurados

Sinodales:
JOSE GONZALO GONZALEZ REYES;
Autores:
Estrada Ayala, Ricardo
Tipo de tesis:
Tesis de Licenciatura
Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Química
Entidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Investigaciones en Materiales;