JULIO CESAR CRUZ CARDENAS



DATOS GENERALES NOMBRAMIENTOS
Nombre completo   JULIO CESAR CRUZ CARDENAS
Máximo nivel de estudios   MAESTRÍA
Antigüedad académica en la UNAM   7 años

Vigente   PROFESOR ASIGNATURA A TP No Definitivo
Facultad de Ciencias
Desde 01-10-2023
ESTIMULOS, PROGRAMAS, PREMIOS Y RECONOCIMIENTOS
* SNI I2022 - 2023
* SNI C2017 - 2021

INFORMACIÓN DE PUBLICACIONES
Firmas  
Cruz J. Cruz, J.
Áreas de conocimiento  
Materials science, coatings and films Physics, applied Acoustics and ultrasonics Materials chemistry
Coautorías con entidades de la UNAM  
Revistas en las que ha publicado  (2):
  1. JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, Reino Unido (2019, 2021)
  2. SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, Suiza (2022)


Documentos indexados (WoS y Scopus)

# Título del documento Autores Año Rista Fuente Citas WoS Citas Scopus
1Deposition of metal thin films using a hollow cathode hydrogen discharge2ᵒ autor: Cruz J., Muhl S., Camps I., Garzon-Fontecha A.2022SURFACE & COATINGS TECHNOLOGYWoS-id: 000822950800006
Scopus-id: 2-s2.0-85128961406
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2Si sputtering yield amplification: a study of the collisions cascade and species in the sputtering plasma1ᵉʳ autor: Cruz, J., Sangines, R., Soto-Valle, G., Muhl, S., et al.2021JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICSWoS-id: 000668708800001
Scopus-id: 2-s2.0-85110325918
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3Study of C, Al, Si and Ge sputtering yield amplification by ion beam analysis and co-sputtering simulation software1ᵉʳ autor: Cruz, J., Muhl, S., Andrade, E., de Lucio, O. G.2019JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICSWoS-id: 000478781600002
Scopus-id: 2-s2.0-85071479906
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4Modeling the thickness distribution of silicon oxide thin films grown by reactive magnetron sputtering1ᵉʳ autor: Cruz, J., Sangines, R., Abundiz-Cisneros, N., Aguila-Munoz, J., et al.2019JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICSWoS-id: 000487724700001
Scopus-id: 2-s2.0-85073245538
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