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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 369658 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 369658

Título del libro: Proceedings Of The 7th International Caribbean Conference On Devices, Circuits And Systems, Iccdcs
Título del capítulo: RF-extraction methods for mosfet series resistances: A fair comparison

Autores UNAM:
JULIO CESAR TINOCO MAGAÑA;

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Autores externos:

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Idioma:

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Año de publicación:
2008

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Palabras clave:

Computer networks; Electric network analysis; Electric network analyzers; Field effect transistors; MOSFET devices; Networks (circuits); Scattering parameters; Spurious signal noise; Transistor transistor logic circuits; Extraction methods; Series resistances; Power converters

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Resumen:

Adequate modeling of MOS transistors for RF applications requires the accurate extraction of the extrinsic series resistances. In this paper, we fairly compare several RF extraction methods based on simulation results provided by an accurate foundry compact model of advanced RF MOSFETs. We demonstrate that all published RF characterization methods properly work to extract the extrinsic series resistances when the RF measurement noise is not considered. However, when Vectorial Network Analyzer (VNA) measurement noise on S-parameters is included in the simulations, we clearly conclude that the extracted series resistances are dependent on the extraction procedure. These results demonstrate the high sensitivity of the extracted RF MOSFETs small-signal equivalent circuit with S-parameters measurement noise and therefore the need of specific filtering methods to reduce the VNA noise floor. ©2008 IEEE.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781424419579
Editorial:

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/ICCDCS.2008.4542657